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2015年4月24日由美国中佛罗里达大学吴诗聪教授为主席的五位海外顶尖级的专家学者在综合实验楼6楼会议室对TFT-LCD关键材料及技术国家工程实验室和上海高校微纳电子器件重点实验室进行了显示研究方向的海外评估。五位专家上午听取了团队负责人苏翼凯教授的开场报告及光电中心教师的技术报告，会议当天下午韩国的Jin Jang教授和Sung Tae Shin教授分别为师生做了题为“Oxide TFTs and TFT electronics for flexible AMOLED”和“Which one will be winner between OLED TV and QD TV”的学术报告。
本次海外评审专家共5位，名单如下：
S.T.Wu，IEEE/OSA/SID/SPIE Fellow，University of Central Florida
Martin Schadt, SID Fellow、欧洲科学院院士，MS-High-Tech Consulting
IC Khoo, IEEE/OSA Fellow，Penn State University
Sung Tae Shin, SID Fellow, Seoul National University
Jin Jang , SID Fellow, Kyunghee University, Korea
在随后的时间五位专家与教师学生们用英文进行了座谈、通过回顾他们在从事学术研究过程中的生活、学习及工作经历，分享了其在选取科研方向、攻克科研难点等方面的宝贵经验，语言诙谐幽默，气氛轻松，师生们受益匪浅。报告后，与会学生向教授踊跃提问，请教研究生活中遇到的问题。最后在苏翼凯教授和光电中心教师们的陪同下，五位专家参观了光电测试、显示净化实验室和AEMD平台。
会后专家们反馈了一份详细而客观的评估报告，报告从海外角度反映了交大显示研究的水平，并从实验室和学生培养、专利申请、新技术的发展、人员配备、论文发表、研究课题和经费申请、工业应用等七个方面提出了进一步发展的举措。报告对于实验室的后续发展具有重要意义。
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